二、高壓加速壽命試驗機技術參數：

1、型號：PCT-25內箱Φ25×40㎝

2、型號：PCT-30內箱Φ30×50㎝

3、型號：PCT-40內箱Φ40×60㎝

4、型號：PCT-50內箱Φ50×70㎝

5、溫度范圍：100℃～132℃

6、濕度范圍：RH飽和蒸汽

7、壓力范圍：大氣壓+0～4㎏/cm2

三、高壓加速壽命試驗機特性：

1、試驗過程自動運轉至完成結束、使用簡便。

2、雙重過熱保護裝置，當鍋內溫度過高時，機器鳴叫警報并自動切斷加熱電源。

3、LED數字型溫度控制器可作精確試驗溫度之設定、控制及顯示，PID控制誤差±0.1℃。

4、LED數字型定時器，當鍋內溫度到達后才開始計時以確保試驗*。

5、精準的壓力、溫度對照顯示。

6、運轉時流水器自動排出未飽和蒸汽以達到蒸汽質量。

7、試驗過程中水位不足時能自動補充水位之功能，試驗不中斷，確保使用安全。

8、鍋內安全裝置，鍋門若未關緊則機器無法啟動。

9、安全閥，當鍋內壓力超過大工作值自動排氣泄壓。

10、門蓋保護，ABS材質制成可防止操作人員接觸燙傷。

11、一體成型硅膠門墊圈，氣密度良好，且使用壽命長。

高壓加速壽命試驗機/飽和型高壓加速壽命試驗機/工業(yè)壓力鍋  

高壓加速壽命試驗機用途：廣泛應用于線路板，多層線路板，，IC,LED,,磁鐵之產品密封性能的檢測，測試器制品的耐壓性。 

高壓加速壽命試驗機技術要求：

◎型號： PCT-35

◎內箱尺寸（cm）：Φ300×D450

◎溫度范圍：110℃——132℃ 

◎濕度范圍：RH飽和蒸氣 

◎壓力范圍：環(huán)境大氣壓+0.5— 2kg/cm2  

◎循環(huán)方式：水蒸氣自然對流循環(huán) 

◎控制器：微電腦飽和蒸氣溫度+時間+壓力顯示獨立控制器 

◎解析度：溫度：0.1壓力：指針式0.1 

◎控制穩(wěn)定度：溫度：±0.5℃，濕度： 

◎內箱材質：SUS316#不銹鋼 

◎外箱材質：鋼板考柒 

◎安全保護：試驗時全程檢測超溫超壓保護，階段儀表內部超高溫保護，二階段儀表內部加濕器缺水保護，高壓力保護，水箱缺水報警斷電，二階段加濕管極限溫度保護，二階段超高壓保護，三階段緊急泄壓保護，手動泄壓保護，自動泄壓等.  

特性：

◎實驗過程自動運轉之完成結束，使用簡單。  

◎雙重過熱保護裝置，當缸內溫度過高時機器鳴叫報警并自動切斷加熱電源。  

◎LED數字型溫度控制器可做精確試驗溫度之設定，控制及顯示。PID控制，誤差士0.1℃  

◎LED數字型定時器，當缸內溫度到達后才開始計時以確保實驗安全。  

◎精確地溫度壓力對照顯示。  

◎運轉時流水器自動排除未飽和蒸汽已達到蒸汽質量。  

◎實驗過程中水位不足時自動補充水位之功能，試驗不中終端，確保使用安全。  

◎缸內安全裝置，鋼門若未關緊則及機器無法啟動。  

◎安全閥：當缸內溫度超過大值時自動排氣泄壓。  

◎門口保護：ABS材質制成可防止操作人員接觸燙傷一體成型硅膠門墊圈，氣密度良好，且使用壽命長。

高壓加速壽命試驗機產品詳情：  

◎加速壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力（如：溫度）與工作應力（施加給產品的電壓、負荷.等），加快試驗過程，縮短產品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。  

◎用于調查分析何時出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。  

◎隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了新的壓力蒸煮鍋試驗方法。壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT（HAST）現在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC（電工委員會）所標準化。注意事項：USPCT現在稱為HAST（高度加速應力試驗）。

  

以上是恒溫恒濕實驗室的相關信息，如需了解更多恒溫恒濕實驗室維護、保養(yǎng)等信息，請艾思荔。

：   李

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