半導體高低溫老化試驗箱產品用途：

高低溫交變濕熱試驗箱是、汽車、家電、科研等領域*的測試設備，用于測試和確定電工、電子及其他產品及材料進行高溫、低溫、交變濕熱度或恒定試驗的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能；、或恒定濕熱試驗的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能.適用于學校，工廠，，研位，等單位。

半導體高低溫老化試驗箱型號與參數(shù)：

型號 ：TH－100  TH－150  TH-225  TH-408  TH-800  TH-1000    

 工作尺寸 ：40×50×40  50×60×50  60×75×50  60×85×80  100×100×80  100×100×100    

外型尺寸cm ：120×165×115  130×170×125  140×185×130  165×195×155  185×200×175  190×210×185

半導體高低溫老化試驗箱溫度范圍：（A：+25℃； B：0℃；C：-20℃； D：-40℃；E：-60℃；F：-70℃）高溫:100℃（150℃）

符合標準

試驗箱具有較寬的溫濕度調節(jié)控制范圍，可滿足標準本產品滿足GB 2423.1--2001、GB 2423.2—2001、GB2423.3-2001、GB2423.4-2001等標準《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程》A：低溫試驗方法，試驗B：高溫試驗方法，試驗Ca：恒定濕熱試驗方法，試驗Db：交變濕熱試驗方法》要求。GB 10592—89、GB/T5170.2-96標準制造件，并可按軍標試驗要求GJB150.3-86，GJB150.4-86，及非標準制作各種高低溫環(huán)境試驗。并等效滿足GJB150.9-86等相應的國標、軍標；也可按客戶的要求制造非標準產品。

半導體高低溫老化試驗箱也可按客戶需要定制非標試驗箱：

溫度波動度：±0.5℃ 

溫度偏差：   ≤±2℃

濕度范圍：30～98% R＆#8226;H

濕度偏差： +2～-3% R＆#8226;H

升降溫平均速率：  0.7℃～1.0℃/min  

時間設定范圍：   0～9999 小時

電源要求：AC380V

半導體高低溫老化試驗箱箱體結構：

箱體采用數(shù)控機床加工成型，造型美觀大方，并采用無反作用把手，操作簡便。

箱體內膽采用進口不銹鋼（SUS304）鏡面板，箱體外膽采用A3鋼板噴塑，增加了外觀質感和潔凈度。

大型觀測視窗附照明燈保持箱內明亮，且利用發(fā)熱體內嵌式鋼化玻璃，隨時清晰的觀測箱內狀況。

配直徑50mm的測試孔，可供外接測試電源線或信號線使用

免費送貨上門，并安裝調試操作介紹（直到需方員工獨立操作并滿意為止）

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